腦電圖性能模擬儀SEEG100E，專(zhuān)為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試所設(shè)計(jì)的EEG腦電性能測(cè)試儀，符合IEC 80601-2-26:2019國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

腦電圖性能模擬儀SEEG100E，專(zhuān)為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試所設(shè)計(jì)的EEG腦電性能測(cè)試儀，符合IEC 80601-2-26:2019 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試所設(shè)計(jì)的EEG腦電性能測(cè)試儀，符合IEC 80601-2-26:2019國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試；

2.依據(jù)較新的EEG國(guó)際法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)IEC 80601-2-26:2019所設(shè)計(jì)；

3.電路設(shè)計(jì)，可輸出1µV微小訊號(hào)；

4.9通道自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)可作個(gè)別信道的性能測(cè)試；

5.內(nèi)建620kΩ/4.7nF輸出阻抗測(cè)試的EEG標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路；

6.良好的屏蔽與接地設(shè)計(jì)讓訊號(hào)輸出更加準(zhǔn)確；

7.可做為EEG訊號(hào)撥放器，可撥放PhysioNet EDF、text、binary格式的波型訊號(hào)；

8.IEC 80601-2-26小幫手可簡(jiǎn)化法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試所需花費(fèi)的人力與時(shí)間。